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蔡司Sigma系列掃描電鏡

  

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產(chǎn)品簡介:

靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能

將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。

Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

用于清晰成像的靈活探測

自動化加速工作流程

高級分析型顯微鏡

配件:

SmartEDX

為您帶來一體化能譜分析解決方案

如果單采用SEM成像技術(shù)無法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來進行顯微分析。通過針對低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。

拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

完全集成化的拉曼成像

在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果,獲得材料更豐富的表征信息。通過擴展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品中獨一無二的化學(xué)指紋信息,從而指認其成分。

 

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時間:2021/11/8 9:31:06
來源:http://zclianshengwooden.cn/